ОБОРУДОВАНИЕ

Спектрометр КРС/ФЛ на базе конфокального микроскопа Nanofinder HE
Назначение: локальный анализ методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции
Технические характеристики:
• 4 лазера (355, 473, 532 и 785 нм) для оптического возбуждения
• спектральное разрешение до 0.01 нм
• пространственное разрешение до 200 нм (латеральное) / 500 нм (вертикальное)
• высокочувствительный охлаждаемый фотоприемник (рабочий спектральный диапазон – 330-1100 нм)
• возможность проведения криогенных измерений (до 20 К)
Электрофизический измерительный комплекс CFHF
Назначение: электрофизические и магнитные измерения с высокой точностью и стабильностью
Технические характеристики:
• диапазон температур 1.7-310 K
• магнитное поле до 8 Тл
• измеряемые параметры и характеристики: электросопротивление, вольт-амперные характеристики, магнитосопротивление, коэффициент Холла, коэффициент термоЭДС (Зеебека), теплопроводность и температуропроводность, магнитный момент и магнитная восприимчивость, импеданс в интервале частот 20 Гц – 30 МГц
Лабораторный комплекс для исследований термоэлектрических свойств материалов
Назначение: исследование термоэлектрических свойств материалов при повышенных температурах
Технические характеристики:
• определение термоэлектрической добротности, коэффициента Зеебека, электропроводности, коэффициента теплопроводности
• термостатирование исследуемого образца в интервале температур от комнатной до 400 °С
• откачка термостатируемой камеры до остаточного давления не хуже 2×10-5 бар, возможность наполнения камеры требуемым газом
Сканирующий зондовый микроскоп SolverNano
Назначение: измерения трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред
Технические характеристики:
• разрешение без сенсоров по XY до 0.05 нм, по Z до 0.01 нм
• уровень шума XY-сенсора 0.3 нм, уровень шума Z-сенсора 0.03 нм
• основные методики: контактная АСМ, амплитудно-модуляционная АСМ, электростатическая АСМ, магнитная АСМ, АСМ спектроскопия, СТМ методики, литография
Спектрометр MLS 35
Назначение: измерение спектров фотопроводимости, фототока и фотоЭДС фоточувствительных материалов и структур
Технические характеристики:
• спектральный диапазон 200-1700 нм
• регулируемое спектральное разрешение
• высокочувствительный усилительный тракт с узкополосным усилением и синхронным детектированием (частота модуляции сигнала от 1.0 до 600 Гц)
Спектрофотометр MC 122
Назначение: измерение спектров отражения, пропускания и оптической плотности
Технические характеристики:
• спектральный диапазон 190-1100 нм
• спектральное разрешение 3 нм
• минимальный угол для работы с отраженным излучением – 20°
Измерители импеданса (LCR-метры)
Назначение: измерения импеданса и вольт-фарадных характеристик
Технические характеристики:
• диапазон частот переменного тока 20 Гц – 30 МГц
• уровень напряжения смещения до ± 40 В
• уровень сканирующего сигнала от 0 до 2 В (RMS) / от 0 до 100 мА (RMS)
• измерение индуктивности: от ± 1×10-18 до 999.9999×1018 Гн
• измерение ёмкости: от ± 1×10-18 до 999.9999×1018 Ф
• измерение сопротивления: от ± 1×10-18 до 999.9999×1018 Ом
Спектрофотометр Photon RT
(кафедра лазерной физики и спектроскопии)
Назначение: измерение спектров отражения, пропускания и оптической плотности
Технические характеристики:
• спектральный диапазон 190-3000 нм
• спектральное разрешение 1.8 нм в интервале 190-1000 нм и 3.6 нм в интервале 1000-3000 нм
• минимальный угол для работы с отраженным излучением 8°

Для проведения научно-исследовательских работ доступно также другое аналитическое оборудование университета: рентгеновские дифрактометры, сканирующие электронные микроскопы, спектрофотометры, ИК-Фурье спектрометры и др.